Лектор: к.т.н., доц. Ковальова Любов Іванівна Лабораторні та практичні заняття:к.т.н., доц. Ковальова Любов Іванівна Нормативні документи: Навчальна програма; Робоча навчальна програма; Опис кредитного модулю; Рейтингова система оцінювання.
Рік: 2010
Автоматизоване проектування різальних інструментів
Лектор: к.т.н., доц. Ковальова Любов Іванівна Лабораторні та практичні заняття:к.т.н., доц. Ковальова Любов Іванівна Нормативні документи: Навчальна програма; Робоча навчальна програма (Модуль 1); Робоча навчальна програма (Модуль 2); Рейтингова система оцінювання. Інформаційний пакет дисципліни: Мета: формування комплексу професійних знань, необхідних Читати далі …
Лекція голови Microsoft Стіва Балмера для студентів КПІ
Приходьте послухати лекцію генерального директора корпорації Microsoft Стіва Балмера для українських студентів, яка відбудеться у Залі засідань Вченої ради КПІ 5 листопада. 5 листопада 2010 р. 14:45 — 15:30. Бажаний час: 14:00 Зала Вченої Ради НТУУ «КПІ» проспект Перемоги, 37 (1 корпус). Детальніше на сайті ФТІ.
Прогнозування працездатності різальних інструментів
Лектор: д.т.н., проф. Девін Леонід Миколайович Лабораторні та практичні заняття: д.т.н., проф. Девін Леонід Миколайович Нормативні документи: Навчальна програма; Опис кредитного модулю; Рейтингова система оцінювання. Методичне забезпечення: Графік і тематика лекцій
Поточні об’яви
03.11.2010, 16-00, 615-22 Засідання кафедри ІТМ Порядок денний: 1. Аналіз результатів навчання студентів кафедри в поточному семестрі (за результатами 1-ої атестації)Доповідач – доц. Дідковський В.П., куратори груп 2. Організаційні заходи з підотовки студентів до ректорського контролю.Доповідач – доц. Дідковський В.П. Читати далі …
Струмовихровий контроль твердих сплавів
Ультразвуковий контроль твердих сплавів
Висока вартість виробів з твердого сплаву вимагає контроль їх якості. Наявність у готовому виробі дефектів може призвести до зниження його експлуатаційних характеристик або руйнування.Ультразвукова дефектоскопія твердосплавних виробів на дефектоскопи Einstein-II фірми Modsonic згідно розробленої методики дозволяє виявляти тріщини, пори, розшарування Читати далі …
Пристрій для градуювання датчиків АЕ
Призначений для градуювання широкосмугових датчиків АЕ від 200 до 1200 кГц.Основа пристрою – аналізатор спектру СКЧ59. З аналізатора спектра гармонійний сигнал з частотою, що змінюється і постійною амплітудою подається на широкосмуговий підсилювач і збуджує коливання в п’єзоелектричному випромінювачі і далі Читати далі …
